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Instrumentelle Optimierung eines Ultrahochvakuum-Rastertunnelmikroskops und Messungen an Graphit-, Silizium- und Platin-Nickel-Einkristalloberflächen
Biedermann, Albert		 1991
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Rastertunnelmikroskopische Untersuchungen von Si-Oberflächen: Strukturelle Aspekte von Ätzprozessen in HF/NH4F-Lösungen und zweidimensionale Abbildung von Dotierprofilen
Hessel, Hans E.		 1992