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Die Bestimmung optischer Konstanten durch Mikroreflexionsmessung mit Hilfe des Interferenzschichten-Verfahrens
Bühler, Hans-Eugen
In: Sonderband zur 4. Jahrestagung des Committee for Applied Mineralogy of the Mineralogical Society, London, des Institutes für Gesteinshüttenkunde und feuerfeste Baustoffe und des Institutes für Mineralogie und Gesteinskunde der Montanistischen Hochschule Leoben
 1970
2 Hier klicken, um den Treffer aus der Auswahl zu entfernen   Volltext-Dokument vorhanden 34959,80-Per.1
Presentation d'une carte tectonique du monde, destinee a faciliter l'elaboration d'une strategie de prospection des gites lies aux complexes basiques et ultrabasiques
Choubert, Boris
In: Metallogenetische und Geochemische Provinzen: Symposium Leoben, November 1972
 1973