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Die Bestimmung optischer Konstanten durch Mikroreflexionsmessung mit Hilfe des Interferenzschichten-Verfahrens
Bühler, Hans-Eugen
In: Sonderband zur 4. Jahrestagung des Committee for Applied Mineralogy of the Mineralogical Society, London, des Institutes für Gesteinshüttenkunde und feuerfeste Baustoffe und des Institutes für Mineralogie und Gesteinskunde der Montanistischen Hochschule Leoben
 1970
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Die Anwendung der Mikroreflexionsmessung in der Metallographie
Knosp, Helmut
In: Sonderband zur 4. Jahrestagung des Committee for Applied Mineralogy of the Mineralogical Society, London, des Institutes für Gesteinshüttenkunde und feuerfeste Baustoffe und des Institutes für Mineralogie und Gesteinskunde der Montanistischen Hochschule Leoben
 1970