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Characterization of thin films and solid surfaces using proton-induced X-ray emission
Sartwell, Bruce D.; Campbell, Arthur B.
In: U.S. Bureau of Mines Report of Investigations
 1980
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Composition depth profiles and the effects of annaeling for ion-implanted alloys
Sartwell, Bruce D.; Campbell, Arthur B.; Needham, Paul B. Jr.
In: U.S. Bureau of Mines Report of Investigations
 1979