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| Signatur |
43474,80
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| Titel |
Rastertunnelmikroskopische Untersuchungen von Si-Oberflächen: Strukturelle Aspekte von Ätzprozessen in HF/NH4F-Lösungen und zweidimensionale Abbildung von Dotierprofilen |
| VerfasserIn |
Hans E. Hessel |
| Erscheinungsort |
München |
| Verlag |
Ludwig-Maximilians-Universität München
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| Erscheinungsjahr |
1992
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| Seiten |
183 S.
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| Illustrationen |
Ill.
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| Medientyp |
Dissertation
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| Sprache |
Deutsch
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| Anmerkungen |
Literaturverz.S.169-177
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| Hochschulverweis |
Universität München
Dissertation
1992
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| Datensatznummer |
47785
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| Schlagwörter |
Rastertunnelmikroskopie, Silizium-Oberfläche, Ätzung, Dotierprofil, Mineralogie, Dissertation |
| Geograf. Schlagwort |
Deutschland |
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| 43474,80 |
Einzelwerk |
Neulinggasse_Magazin |
Verfügbar |
| Alte Bücher (älter als 1918), Archivstücke und Karten werden nicht außer Haus entlehnt. |
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