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| Signatur |
P.S.2085,80.10
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| Titel |
Die Bestimmung optischer Konstanten durch Mikroreflexionsmessung mit Hilfe des Interferenzschichten-Verfahrens |
| Paralleltitel |
The determination of optical constants by microreflectance measurements and using the interference-layer technique
La determination de constantes optique par microreflectometrie a l'aide de la technique des chouches d'interference |
| VerfasserIn |
Hans-Eugen Bühler |
| Illustrationen |
14 Abb.
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| Medientyp |
Artikel
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| Sprache |
Deutsch
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| ISSN |
0570-6750
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| Erschienen |
In: Sonderband zur 4. Jahrestagung des Committee for Applied Mineralogy of the Mineralogical Society, London, des Institutes für Gesteinshüttenkunde und feuerfeste Baustoffe und des Institutes für Mineralogie und Gesteinskunde der Montanistischen Hochschule Leoben, S.39-60 |
| Anmerkungen |
Literaturverz.S.58-59
Engl.u.franz.Zusammenf.S.154-155
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| Datensatznummer |
200057882
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| Publikation (Nr.) |
 ALO10_039_060.pdf |
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| Schlagwörter |
Optische Konstante, Mikroreflexionsmessung, Methode, Interferenzschichten-Verfahren, Auflichtmikroskopie, Phasenidentifizierung, Mineralogie, Methodik, Mathematik |
| Geograf. Schlagwort |
Österreich |
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| Teil von |
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