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| Signatur |
48498,80
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| Titel |
Accuracy in Trace Analysis: Sampling, Sample Handling, Analysis - Volume 1: Proceedings of the 7th Materials Research Symposium held at the National Bureau of Standards Gaithersburg, Md. October 7 - 11, 1974 |
| VerfasserIn |
Philip LaFleur (Ed.) |
| Konferenz |
Materials Research Symposium (7. : 1976 : Gaithersburg)
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| Erscheinungsort |
Washington, D.C. |
| Verlag |
U.S. Government Printing Office
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| Erscheinungsjahr |
1976
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| Seiten |
XIII, 658 S.
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| Illustrationen |
Ill.
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| Format |
24 cm
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| Medientyp |
Buch
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| Sprache |
Englisch
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| Erschienen |
In: National Bureau of Standards Special Publication ; Nr. 422 (1976) |
| Anmerkungen |
Schroll-Nachlass
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| Datensatznummer |
5995
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| Schlagwörter |
Aufsatzsammlung, Analytische Chemie, Spurenelemente, Analytik, Methodik, Chromatographie, Spektrometrie, Isotope, Massenspektrometrie, Qualitätskontrolle, Röntgenfluoreszenz, Monitoring, Organische Chemie, Anorganische Chemie, Atomabsorption, Spektroskopie |
| Geograf. Schlagwort |
Gaithersburg (Kongreß), USA |
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| 48498,80 |
Einzelwerk |
Neulinggasse_Magazin |
Verfügbar |
| Alte Bücher (älter als 1918), Archivstücke und Karten werden nicht außer Haus entlehnt. |
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| Teil von |
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