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Signatur |
43474,80
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Titel |
Rastertunnelmikroskopische Untersuchungen von Si-Oberflächen: Strukturelle Aspekte von Ätzprozessen in HF/NH4F-Lösungen und zweidimensionale Abbildung von Dotierprofilen |
VerfasserIn |
Hans E. Hessel |
Erscheinungsort |
München |
Verlag |
Ludwig-Maximilians-Universität München
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Erscheinungsjahr |
1992
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Seiten |
183 S.
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Illustrationen |
Ill.
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Medientyp |
Dissertation
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Sprache |
Deutsch
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Anmerkungen |
Literaturverz.S.169-177
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Hochschulverweis |
Universität München Dissertation 1992
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Datensatznummer |
47785
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Schlagwörter |
Rastertunnelmikroskopie, Silizium-Oberfläche, Ätzung, Dotierprofil, Mineralogie, Dissertation |
Geograf. Schlagwort |
Deutschland |
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43474,80 |
Einzelwerk |
Neulinggasse_Magazin |
Verfügbar |
Alte Bücher (älter als 1918), Archivstücke und Karten werden nicht außer Haus entlehnt. |
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