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| Signatur |
45185,80
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| Titel |
Electron Microscopy of Thin Crystals |
| VerfasserIn |
P. B. Hirsch, A. Howie, R. B. Nicholson, D. W. Pashley, M. J. Whelan |
| Auflage |
1st ed.
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| Erscheinungsort |
London |
| Verlag |
Butterworths
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| Erscheinungsjahr |
1965
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| Seiten |
VIII, 549 S.
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| Illustrationen |
Ill.
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| Medientyp |
Buch
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| Sprache |
Englisch
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| Anmerkungen |
Literaturang.
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| Datensatznummer |
46386
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| Schlagwörter |
Elektronenmikroskopie, Methode, Dünnschliff-Analyse, Kristall, Methodik, Mineralogie |
| Geograf. Schlagwort |
International |
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| 45185,80 |
Einzelwerk |
Neulinggasse_Magazin |
Verfügbar |
| Alte Bücher (älter als 1918), Archivstücke und Karten werden nicht außer Haus entlehnt. |
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