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| Signatur |
45356,80
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| Titel |
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists |
| VerfasserIn |
Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin, David C. Joy, A. D. Romig, Charles E. Lyman, Charles Fiori, Eric Lifshin |
| Auflage |
2nd ed.
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| Erscheinungsort |
New York City |
| Verlag |
Plenum Press
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| Erscheinungsjahr |
1992
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| Seiten |
XVIII, 820 S.
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| Illustrationen |
Ill.
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| Medientyp |
Buch
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| Sprache |
Englisch
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| ISBN |
0-306-44175-6
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| Anmerkungen |
Literaturverz.S.787-805
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| Datensatznummer |
46226
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| Schlagwörter |
Scanning-Electron-Microscopy (SEM), Röntgenanalyse, Mikroanalyse, Methode, Lehrbuch, Methodik |
| Geograf. Schlagwort |
International |
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| 45356,80 |
Einzelwerk |
Neulinggasse_Magazin |
Verfügbar |
| Alte Bücher (älter als 1918), Archivstücke und Karten werden nicht außer Haus entlehnt. |
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