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| Signatur |
54198,80.1
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| Titel |
Röntgenanalyse: Band 1 Röntgenstrahlen und Detektoren |
| VerfasserIn |
Joachim Urlaub |
| Auflage |
1. Aufl.
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| Erscheinungsort |
Berlin |
| Verlag |
Siemens Aktiengesellschaft
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| Erscheinungsjahr |
1974
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| Seiten |
218 S.
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| Illustrationen |
Ill.
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| Medientyp |
Buch
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| Sprache |
Deutsch
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| ISBN |
3-8009-1193-0
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| Anmerkungen |
Elisabeth-Kirchner-Nachlass
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| Datensatznummer |
155592
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| Schlagwörter |
Mineralogie, Röntgenanalyse, Röntgenographie, Analyse, Methode, Beschreibung, Handbuch, Lehrbuch |
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| 54198,80.1 |
Einzelwerk |
Neulinggasse_Magazin |
Verfügbar |
| Alte Bücher (älter als 1918), Archivstücke und Karten werden nicht außer Haus entlehnt. |
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