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Signatur |
48496,80
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Titel |
Trace Characterization: Chemical and Physical;based on lectures and discussions of the 1st Materials Research Symposium held at the NBS, Gaithersburg, Maryland October 3 - 7, 1966 |
VerfasserIn |
W. Wayne Meinke (Ed.), Bourdon F. Scribner (Ed.) |
Konferenz |
Materials Research Symposium (1. : 1966 : Gaithersburg)
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Erscheinungsort |
Washington, D.C. |
Verlag |
Government Printing Office
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Erscheinungsjahr |
1967
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Seiten |
XVIII, 580 S.
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Illustrationen |
Ill.
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Format |
25 cm
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Medientyp |
Buch
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Sprache |
Englisch
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Erschienen |
In: National Bureau of Standards Monograph ; Nr. 100 (1967) |
Anmerkungen |
Schroll-Nachlass
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Datensatznummer |
11837
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Schlagwörter |
Aufsatzsammlung, Spurenelemente, Elektrochemie, Methodik, Nukleartechnik, Röntgenspektroskopie, Elektronenmikroskopie, Diffraktometrie |
Geograf. Schlagwort |
Gaithersburg (Kongreß), USA |
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48496,80 |
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Neulinggasse_Magazin |
Verfügbar |
Alte Bücher (älter als 1918), Archivstücke und Karten werden nicht außer Haus entlehnt. |
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Teil von |
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