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| Signatur |
48496,80
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| Titel |
Trace Characterization: Chemical and Physical;based on lectures and discussions of the 1st Materials Research Symposium held at the NBS, Gaithersburg, Maryland October 3 - 7, 1966 |
| VerfasserIn |
W. Wayne Meinke (Ed.), Bourdon F. Scribner (Ed.) |
| Konferenz |
Materials Research Symposium (1. : 1966 : Gaithersburg)
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| Erscheinungsort |
Washington, D.C. |
| Verlag |
Government Printing Office
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| Erscheinungsjahr |
1967
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| Seiten |
XVIII, 580 S.
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| Illustrationen |
Ill.
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| Format |
25 cm
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| Medientyp |
Buch
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| Sprache |
Englisch
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| Erschienen |
In: National Bureau of Standards Monograph ; Nr. 100 (1967) |
| Anmerkungen |
Schroll-Nachlass
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| Datensatznummer |
11837
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| Schlagwörter |
Aufsatzsammlung, Spurenelemente, Elektrochemie, Methodik, Nukleartechnik, Röntgenspektroskopie, Elektronenmikroskopie, Diffraktometrie |
| Geograf. Schlagwort |
Gaithersburg (Kongreß), USA |
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Neulinggasse_Magazin |
Verfügbar |
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| Teil von |
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