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| Signatur |
P.S.494,40.8455
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| Titel |
Characterization of thin films and solid surfaces using proton-induced X-ray emission |
| VerfasserIn |
Bruce D. Sartwell, Arthur B. Campbell |
| Erscheinungsort |
Washington, D.C. |
| Verlag |
U.S. Department of the Interior
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| Erscheinungsjahr |
1980
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| Seiten |
22 S.
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| Illustrationen |
Ill.
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| Format |
27 cm
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| Medientyp |
Buch
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| Sprache |
Englisch
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| Erschienen |
In: U.S. Bureau of Mines Report of Investigations ; Nr. 8455 (1980) |
| Datensatznummer |
1173
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| Schlagwörter |
Metalloberfläche, Untersuchungsmethode |
| Geograf. Schlagwort |
USA |
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| P.S.494,40.8455 |
Einzelwerk |
Neulinggasse_Magazin |
Verfügbar |
| Alte Bücher (älter als 1918), Archivstücke und Karten werden nicht außer Haus entlehnt. |
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| Teil von |
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